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            首頁>>上海倍藍光電科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>粒子物性評價系統(tǒng)

            • ZETA電位·粒徑·分子量測系統(tǒng)ELSZ-2000系列 參考價:面議

              zeta電位分析儀,ZETA電位·粒徑·分子量測系統(tǒng)ELSZ-2000系列可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。粒徑...
              型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
              zeta電位分析儀
              2025/4/15 10:04:451953
            • 多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLA 參考價:面議

              多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLA利用動態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量(粒徑0.6nm~10μm)儀器??蓪獧z體范圍廣,低濃度~高濃度類,新光學系,輕...
              型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
              粒徑測量多檢體納米粒徑量測系
              2025/4/15 10:02:381162
            • 顯微分光膜厚儀(OPTM系列) 參考價:面議

              顯微分光膜厚儀(OPTM系列)使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進行測量,可進行高精度膜厚度/光學常數(shù)分析。通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜...
              型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地: 對比
              2025/4/15 10:00:231136

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